Главная страница  Математические методы 

[0] [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12] [13] [14] [15] [16] [17] [18] [19] [20] [21] [22] [23] [24] [25] [26] [27] [28] [29] [30] [31] [32] [33] [34] [35] [36] [37] [38] [39] [40] [41] [42] [43] [44] [45] [46] [47] [48] [49] [50] [51] [52] [53] [54] [55] [56] [57] [58] [59] [60] [61] [62] [63] [64] [65] [66] [67] [68] [69] [70] [71] [72] [73] [74] [75] [76] [77] [78] [79] [80] [81] [82] [83] [ 84 ] [85] [86] [87] [88] [89] [90] [91] [92] [93] [94] [95] [96] [97] [98] [99] [100] [101] [102] [103] [104] [105] [106] [107] [108] [109] [110] [111] [112] [113] [114] [115] [116] [117] [118] [119] [120] [121] [122] [123] [124] [125] [126] [127] [128] [129]

МОЩНОСТЬ порядка нескольких сотен ватт в диапазоне 0,5- 5 ГГц. Третий тип генератора СВЧ, в отличие от первых двух, не являющийся лавинным диодом, - BARITT (BARrier Injection Transit Time) Физика этих приборов рассматривается в следующем разделе.

Вид зависимости скорости дрейфа от поля, имеющийся у носителей заряда в кремнии и германии, не обязателен для всех полупроводников. Некоторые полупроводники типа AmBv, особенно GaAs, имеют максимум скорости при увеличении поля, как показано на рис. 10.2 [17]. Этот максимум отражает процесс переноса электронов из зоны с высокой подвижностью


ПолехЮ в/м

Рис. 10.2. Схематическое изображение зависимости скорости электронов от величины поля в GaAs.

В зону с низкой подвижностью при увеличении поля. В результате переноса в зависимости скорости от поля появляется область отрицательной дифференциальной подвижности. При достаточно высоких полях по существу все электроны находятся в зоне с низкой подвижностью и скорость насыщается точно таким же образом, как в кремнии или германии.

Полупроводниковые материалы с областью отрицательной дифференциальной подвижности в зависимости скорости дрейфа от поля позволяют получать очень высокую (СВЧ) частоту колебаний тока при достаточно высоких полях смещения. Это явление было обнаружено Дж. Б. Ганном в 1963 г. [20], хотя и было предсказано в более ранней теоретической работе. В своих экспериментах Ганн наблюдал колебания тока на частоте

> В дальнейшем для диодов IMPATT, TRAPATT и BARITT будем использовать более распространенные в отечественной литературе наименования: ЛПД, плазменный ЛПД (ПЛПД) и инжекционно-пролетный диод (ИПД).- Яргмг. перев.



около 1 ГГц в образцах GaAs п-типа с омическими контактами. Явление, ответственное за колебания, появляющиеся, когда приложенное напряжение превышает критическое значение,- это перенос электронов из зоны с высокой подвижностью в зону с низкой подвижностью, о чем упоминалось выше. Диод Ганна является основой генератора на переносе электронов, который рассматривается в разд. 10.6.

10.3. Физика лавинно-пролетных диодов (ЛПД)

Лавинные и инжекционные барьерные приборы представляют собой двухполюсники, изготовляемые из Ge, GaAs и, возможно, наиболее часто из Si. Впервые р+-п-i-п+ (или п+-р-i-р+)-структуру ЛПД предложил Рид [45]. Лишь через несколько лет идеи Рида подтвердились, когда Джонсон с сотр. [28] смогли продемонстрировать работающий прибор. Более современные ЛПД отличаются от предложенного Ридом прибора тем, что они имеют структуру р+-п-п+ (или р+-р- 11+), хотя принципы действия в основном те же самые, какие излагал Рид. Плазменные ЛПД имеют схожую с ЛПД структуру, но работают в другом режиме колебаний. Первыми этот режим продемонстрировали Прейджер с сотр. [44], но теоретическое объяснение полученных ими результатов было опубликовано лишь примерно через два года [3, 9]. Третий тип прибора, рассматриваемый ниже, - инжекционно-пролетный диод (ИПД), основным механизмом которого является скорее пробой посредством инжекции носителей, чем лавинный пробой. По сравнению с ЛПД инжекционно-пролетный диод - малошумящий прибор. Это связано с тем, что лавинный процесс в ЛПД приводит к появлению дробового шума, усиливающегося с коэффициентом усиления устройства, тогда как дробовой шум ИПД имеет тенденцию к определенному ослаблению из-за сглаживающего действия пространственного заряда. С другой стороны, ИПД сам по себе менее эффективен, чем ЛПД.

10.3.1. Лавинно-пролетный диод (ЛПД)

На рис. 10.3, а показана структура р+-п-П+-ЛПД с приложенным обратным смещением. Будем считать, что в отсутствие лавины обратное смещение достаточно высоко для полного обеднения носителями п-слоя, или, другими словами, считаем, что диод работает в режиме пробоя. Таким образом, плотность заряда в п-слое равномерна и равна концентрации доноров No, и, следовательно, электрическое поле Е по всему слою линейно



зависит от расстояния с тангенсом угла наклона

(10.1)

/7 +

Профиль поля схематически изображен на рис. 10.3,6. Далее, процесс лавинного усиления сильно зависит от напряженности поля. Эту зависимость можно оценить, рассматривая коэффициент ионизации а, который зависит от поля следующим образом:

аосехр[-(£о/)«], (10.2)

где Ео - постоянная, а показатель т лежит в пределах 1-2. Вследствие сильной зависимости скорости ионизации от поля лавинное умножение в ЛПД происходит в локализованной зоне вблизи максимального значения поля. Типичная толщина этой зоны составляет 1 мкм [18]. В остальной части п-слоя, обозначенной как область дрейфа, поле слишком мало для ионизации, хотя еще достаточно велико, чтобы носители в этой области двигались с предельной скоростью дрейфа.

Подробные теории поведения зависимости тока от напряжения в ЛПД сложны и выходят за рамки данного изложения. Однако следующее качественное описание дает приемлемое объяснение физических процессов в приборе. Оно также раскрывает в общих чертах механизм генерации мощности, а это - основа применимости ЛПД в качестве источника СВЧ в таких приложениях, как накачка в параметрическом усилителе и гетеродин в радиолокаторе.

Для упрощения полагаем, что предельные скорости дрейфа дырок и электронов одинаковы и равны Vs, что полями пространственного заряда, обусловленного свободными носителями, можно пренебречь и что ионизация дырок и электронов происходит с одинаковой окоростью. Больше того, считаем, что ширина лавинной зоны La не зависит от напряжения, приложенного к диоду. Тогда время пролета носителя через лавинную зону

Ta = Lo/Us.


Рис. 10.3. Структура р+-п-П+-ЛПД (а) и профиль электрического поля в п-области (б).




[0] [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12] [13] [14] [15] [16] [17] [18] [19] [20] [21] [22] [23] [24] [25] [26] [27] [28] [29] [30] [31] [32] [33] [34] [35] [36] [37] [38] [39] [40] [41] [42] [43] [44] [45] [46] [47] [48] [49] [50] [51] [52] [53] [54] [55] [56] [57] [58] [59] [60] [61] [62] [63] [64] [65] [66] [67] [68] [69] [70] [71] [72] [73] [74] [75] [76] [77] [78] [79] [80] [81] [82] [83] [ 84 ] [85] [86] [87] [88] [89] [90] [91] [92] [93] [94] [95] [96] [97] [98] [99] [100] [101] [102] [103] [104] [105] [106] [107] [108] [109] [110] [111] [112] [113] [114] [115] [116] [117] [118] [119] [120] [121] [122] [123] [124] [125] [126] [127] [128] [129]

0.0139