![]() |
Главная страница Полупроводниковые электровакуумные приборы [0] [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12] [13] [14] [15] [16] [17] [18] [19] [20] [21] [22] [23] [24] [25] [26] [27] [28] [29] [30] [31] [32] [33] [34] [35] [36] [37] [38] [39] [40] [41] [42] [43] [44] [45] [46] [47] [48] [49] [50] [ 51 ] [52] [53] [54] [55] [56] [57] [58] [59] [60] [61] [62] [63] [64] [65] [66] [67] [68] [69] [70] [71] [72] [73] [74] [75] [76] [77] [78] [79] [80] [81] [82] [83] [84] [85] [86] [87] [88] [89] [90] [91] [92] [93] [94] [95] [96] [97] [98] [99] [100] [101] [102] [103] [104] [105] [106] [107] [108] [109] [110] [111] [112] [113] [114] [115] [116] [117] [118] [119] [120] [121] [122] [123] [124] [125] [126] [127] [128] [129] [130] [131] [132] [133] [134] [135] [136] [137] [138] [139] [140] [141] [142] [143] [144] [145] ![]() ![]() Рис. 8.9. Структура светоизлучающего диода ежду излучательными и безызлучагельными переходами зависит от структуры энергетических зон полупроводника, наличия в кристалле примесей с большой эффективностью безызлучательных захватов носителей и других причин. Энергетическая эффективность СИД характеризуется квантовым выходом, или квантовой эффективностью - отношением числа излученных фотонов к числу рекомбинировавших пар носителей. Различают внутренний и внешний Це квантовые выходы. Внутренний квантовый выход определяет эффективность излучения непосредственно в р-п-переходе, а внешний - на поверхности кристалла полупроводника. Внешний квантовый выход СИД ниже внутреннего из-за высокого показателя преломления полупроводника. Большая часть квантов света испытывает полное внутреннее отражение на границе раздела полупроводника с окружающим воздухом и поглощается в структуре. Устройство. В простейших СИД с плоской структурой (рис. 8.9, а) в окружающее пространство выходят сотые доли квантов света, возбуждаемых в переходе и прилегающих к нему областях. В СИД со структурой в виде полусферического монокристалла полупроводника (рис. 8.9,6) или с плоской структурой с прозрачным полусферическим покрытием (рис. 8.9, в) внешний квантовый выход больше. Площадь излучающего р-п-перехода светодиода невелика (до 1 мм). Обычно она лимитируется возможным значением тока (10-50 мА) источника питания. СИД являются источниками некогерентного излучения Ч Их спектральные характеристики излучения (рис. 8.10) оказываются размытыми, а в спектре фосфид-галлиевых СИД содержится два максимума (красного и зеленого) свечений. Размытость спектра излучения объясняется тем, что переход электронов при рекомбинации носителей заряда происходит не между двумя определенными энергоуровнями, а между группами близко расположенных энергетических уровней. Размытие спектра излучения определяют полушириной спектральной характеристики. Ее измеряют (в на- • Некогерентиыми являются монохроматические волны разных частот, а также группы волн, начинающиеся и обрывающиеся со случайными значениями фаз в моменты их начала и обрыва. S О.д %o,6 I 0,4 .§ 0.2
0,6 07 0.8 OJ>A.mM. 3,0 2,5 2,0 WJ 1.0 1,5 1,if 1,ЗЕ,зО Рис. 8.10. Спектральная чувствительность глаза (штриховая линия) и спектры излучения СИД из арсенида и фосфида галлия нометрах или микрометрах) на высоте 0,5 от максимума излучения. В настоящее время щироко используются матрицы СИД, содержащие -от 5 до 35 дискретных элементов (р-п-переходов), сформированных по планарной технологии в одном монокристалле. При большом числе элементов их соединяют в матрицу с перекрестной коммутацией. Они излучают свет при подаче прямого тока. Различные комбинации элементов, обеспечиваемые внешней коммутацией, позволяют воспроизвести цифровую и буквенную информацию (рис. 8.11, fl). Цифрознаковые индикаторы (ЦЗИ) изготовляются в виде монолитных матриц или гибридных интегральных схем. Другой разновидностью СИД служат управляемые светодиоды с управляемой геометрией светящегося поля (рис. 8.11,6). Область п-типа такого СИД низкоомна и практически эквипотенциальна. Область р-типа высокоомна и при подключении внешнего напряжения не будет эквипотенциальной. Распределение потенциала t/np в р-области и размер светящегося поля будет определяться значением напряжения IJy, подводи.мого к управляющему электроду (рис. 8.11, е). Характеристики и параметры. Специфическими параметрами СИД являются световые или фотометрические величины, характеризующие степень воздействия света на человеческий .глаз. За единицу силы света в системе СИ принята кандела (кд). Одна кандела дает световой поток 4.тт люмена (лм). Эффективность действия света на человеческий глаз оценивается спектральной чувствительностью или спектральной характеристикой видности (см. рис. 8.10). ППППП ![]() тшшпг ![]() Рис. 8.11. Устройство и распределение потенциала в р-области матричного СИД Длина волны излучаемого .света определяется разностью энергий двух энергоуровней, между которыми происходит переход электронов на излучательном этапе процесса рекомбинации. Ши рина запрещенной зоны у различных полупроводниковых материалов неодинакова. Различна и глубина залеганий в запрещенной зоне энергоуровней различных примесей, вызывающих излучатель-ную рекомбинацию носителей заряда. В связи с этим различна и длина волны излучаемого света в разных светодиодах. Чувствительность глаза максимальна при длине волны %= = 555 нм, лежащей в зеленой области спектра, и составляет 680 лм/Вт (1 Вт мощности излучения эквивалентен световому потоку 680 лм). Излучающий прибор, который всю свою энергию отдает только в виде. излучения с %=555 нм, обладает наибольшей (с точки зрения глаза человека) яркостью и экономичностью при использовании СИД для визуального отображения информации. Очевидно, СИД из арсенида галлия (GaAs) непригодны для визуальной индикации (см. рис. 8.10). Яркость излучения определяется как сила света, отнесенная к видимой площади излучателя (кд/м). Из особенностей фотометрических единиц вытекает, что СИД с %=650 нм (красный свет) и СИД с %=555 нм (зеленый свет) при одинаковой мощности излучения (например, 1 Вт), и равными поверхностями свечения (например, 1 мм) имеют разные яркости. Яркость СИД зеленого цвета свечения в 10 раз больше, чем яркость красного (их световые потоки соответственно 680 и 68 кд), что явилось следствием спада спектральной характеристики видности в сторону как малых, так и больших длин волн (от максимума при %=555 нм). Область применения. ЦЗИ на основе СИД используются в качестве знаковых индикаторов шкал измерительных приборов, микрокалькуляторов, электронных наручных часов, устройств аналоговой и цифровой информации. Примерами СИД для визуальной индикации служат приборы АЛ304А-Г, АЛ306А-Ж, АЛ323А-5, позволяющие воспроизвести цифровую и буквенную информацию. § 8.7. Инжекционные лазеры и оптроны Полупроводниковые лазеры представляют собой полупроводниковые приборы, непосредственно преобразующие электрическую энергию или энергию некогерентного излучения в энергию когерентного излучения (с неизменными частотой и разностью фаз). Принцип действия. В полупроводниковых лазерах излучение возникает при вынужденной (стимулированной) рекомбинации носителей заряда в отличие от самопроизвольного (спонтанного) процесса рекомбинации (и излучения) в светоизлучающих диодах. Стимулированная фотонная рекомбинация сопровождается когерентным излучением с заданной длиной волны. Явление вынужденной рекомбинации позволяет с помощью электромагнитных [0] [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12] [13] [14] [15] [16] [17] [18] [19] [20] [21] [22] [23] [24] [25] [26] [27] [28] [29] [30] [31] [32] [33] [34] [35] [36] [37] [38] [39] [40] [41] [42] [43] [44] [45] [46] [47] [48] [49] [50] [ 51 ] [52] [53] [54] [55] [56] [57] [58] [59] [60] [61] [62] [63] [64] [65] [66] [67] [68] [69] [70] [71] [72] [73] [74] [75] [76] [77] [78] [79] [80] [81] [82] [83] [84] [85] [86] [87] [88] [89] [90] [91] [92] [93] [94] [95] [96] [97] [98] [99] [100] [101] [102] [103] [104] [105] [106] [107] [108] [109] [110] [111] [112] [113] [114] [115] [116] [117] [118] [119] [120] [121] [122] [123] [124] [125] [126] [127] [128] [129] [130] [131] [132] [133] [134] [135] [136] [137] [138] [139] [140] [141] [142] [143] [144] [145] 0.0142 |